测试程序在LED寿命试验中，先对试验样品进行光电参数测试筛选，淘汰光电参数超规或异常 的器件，合格者进行逐一编号并进行寿命试验，完成连续试验后进行复测，以获得寿命试验 结果。为了使寿命试验结果客观、正确，除做好测试仪器的计量外，还规定原则上试验前后 所采用的是同一台测试仪测试，以减少不必要的误差因素。
6.LED的寿命的预测对寿命的预测是LED行内普遍的迫切的要求，LED通常以发光强度或光通量衰减到初 始值50％的时间为半衰期，对于LED寿命的预测，IEC多次召开光源专家会议在起草相关 通过提高温度进行加速寿命的试验。
一般把寿命预测试验分为两类。
(1）长期寿命试验。为了确认LED灯具寿命是否达到3.5万h，按美国ASSIST 联盟规 定，应进行长期寿命试验，首先需要电老化1000h后，测出光通量作为初始值。然后加额定 电流通电3000h，测量光通量应该衰减要小于4%，再继续通电3000h，光通量衰减要小于 8%，再通电4000h，测得光通量衰减要小于初始值的14%，这样在光通量测出后通电共 1.1万h，而光通量达到初始值的86％以上。此时才可证明确保LED寿命达到3.5万h。该 办法比较麻烦，1.1万h意味着要试验1年多，其实用意义确实不大。
(2）加速寿命试验。电子器件加速寿命试验可以在加大应力（此处应力并非机械上的应 力，而指相应的实验条件）下进行试验，这里要讨论的是采用温度应力的办法，测量计算出 来的寿命是LED平均寿命，即MTTF。《信息技术与标准化》杂志提出该方法，采用此方 法将会大大地缩短LED寿命的测试时间，有利于及时改进、提高 LED可靠性。加大温度应 力的寿命试验方法已经有不少资料提及，主要是引用"亚玛卡西"(yamakoshi）的发光管光 功率缓慢退化公式，通过退化系数得到不同加速应力温度下LED的寿命试验数据，再用 "阿伦尼斯"(Arrhenius）方程的数值解析法得到正常应力下的 LED的平均寿命，简称"退 化系数解析法"，该方法采用三个不同应力温度即165、175、185℃下，测量的数据计算出 室温下平均寿命的一致性。该试验方法是可靠的，其依据是国家标准（GB 1772）规定的电 子元器件加速寿命试验方法，选择了工作环境温度作为加速应力。
目前相关单位已起草制定 "半导体发光二极管寿命的试验方法"标准，国内一些企业也同时研制加速寿命试验的设备 仪器。这对LED产业的发展起来推动作用。除了采用温度应力，还可采用电流应力的办法 对大功率LED作加速寿命试验，采用1.5 倍的电流，或加以温度应力，可以做一综合尝试。目前使用的 LED路灯，如厂家通过加速老化试验，以及国家检测机构的测试和测算， 5000h的光衰率小于3%，由此推断光衰到70％需要50 000h。这一数据在一年多的实践中 已经得到证明，通过该测试的 LED灯作为道路照明应该是放心的。http://www.ledlongtech.com/
