led知识，  led寿命测试研究现状

   欧司朗 LUW CP7P产品采用 IESNA LM -80标准进行测试，在350mA、55℃条件下，10000h衰减到原来的94.28%，而在350mA、105℃条件下，10000h衰减到原来的92.86%。

   美国标准 LM -80-08( Approved Method : Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources ）提出了在3个外壳温度（85℃、55℃和制造商选择的温度）下测量 LED 的光通维持率，旨在测量 LED 封装、阵列及模块的固态照明光源的6000h大约相当于9个月时间）光通维持率。欧司朗选择以105℃的温度仿真要求严苛的应用需求。在测试过程中，根据不同功率的 LED ，选择不同的环境测试温度，但所选择的温度需在上述已知的3个区间内，根据测试的数据进行线性计算并外推即可得出 LED 的寿命。

    远方公司开发出一套加速老练和寿命检测系统，其主要包括恒温试验箱、老练测试主机、多路温度巡检仪、光度计和系统软件。在测试过程中，恒温试验箱分别控制在85℃、55℃和25℃，老练测试主机用于给被测 LED 供电及完成各 LED 电参数的测量，多路温度巡检仪用于测量 LED 的温度，光度计用于测量 LED 的光度参数，上述三者将测试的结果反馈到系统软件，软件分析推算得到被测 LED 的寿命。

   力油电子科技（上海）有限公司根据 IES - LM -80、 IESOLM -82、 TM -21、GB2312-80等 CIE 和 IEC 标准设计制造设计出一套 LEDLM -80PLLED光通量维持率及老化寿命测试系统。该测试系统包含两个功能： LED 光通量维持率测试及 LED 光色参数随时间变化的曲线，如相关色温、色品坐标、光通量等随时间变化的曲线。通过连续几百至几千小时的光通量、色参数数据采集，利用软件预测L30、L70等光通维持率，推算出 led寿命时间。

   通过将温度、温度变化、多轴振动组合在一起，加速试验应用快速温变振动箱能够快速辨别电子产品的过程缺陷并暴露出

设计缺陷。采用预先设计的加速因子，高加速寿命试验（ HALT ）提供寿命评估、 MTBF 、 MTFF ，缩短产品研发周期，

增加产品寿命可靠性的置信度。快速温变振动箱的温度范围为150~1000℃，温变速率达到600℃/ min 。温度循环通过热

对流和液氮制冷。高加速寿命试验箱配置多个气动控制器（4个以上），能够同时提供多自由度的宽频重复振动。振动控制

器配置几个时间独立、频率独立的疲劳分析软件工具。测试装置采用热电偶获得被测样品的温度分布，加速度传感器和应力

传感器记录样品的变形历史。